FIB är ett högteknologiskt instrument som används för att kunna modifiera material på nanometernivå och ersätter den nu avvecklade Zeiss FIB.
. Den primära FIB-applikationen kommer att vara beredning av ultratunna skivor av material, som därefter kan analyseras med transmissionselektronmikroskopi.
- FIB-systemet fungerar som en mikroskopisk schweizisk armékniv för forskning, som kan skära, forma, avbilda och analysera de minsta detaljerna av material, säger Justinas Palisaitis, docent vid avdelningen för tunnfilmsfysik vid LiU.
Dessutom underlättar FIB/SEM-systemet tvärsnittsavbildning, ytstrukturering, felanalys och mer därtill. Nya FIB-system innebär ett språng i precision, hastighet, effektivitet och automation, drivet av framstegen inom dual-beam teknologi och den nya maskinen vid LiU är inget undantag, säger Justinas Palisaitis.
- Det överträffar kapaciteten hos sin föregångare med råge. Användarlicenser kommer att ges efter utbildning som kommer att påbörjas inom de närmaste veckorna och kommer att vara öppna för alla vid LiU, säger Justinas Palisaitis.
Ansök om tillgång och utbildning genom LIMS-systemet. Finansiering för systemet tillhandahölls genom Avancerade funktionella material (AFM) och WISE.
